![]() |
Опросный лист заказчика / регистрация на сайтеДля получения доступа к циклу статей «Основы теории и практики тестопригодного проектирования (DFT),
граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT)» необходимо заполнить предлагаемый ниже Опросный лист заказчика
(обязательные для заполнения поля отмечены звездочкой *, и это действительно означает, что неверно заполненные листы
рассмотрены НЕ будут), а затем перейти по следующей ссылке,
войти в любую из статей списка и оплатить (всего 500 рублей на полгода!) абонемент на чтение всех (!) статей, как тех, которые уже вышли,
так и тех, которые только будут за эти полгода написаны и опубликованы. Этот абонемент является формой оплаты обучения в JTAG-университете и
предусматривает возможность задавать любые вопросы и получать профессиональные ответы д-ра JTAG (по переписке, Для подписки на новостные рассылки достаточно выбрать тип рассылки. На указанный адрес e-mail придет письмо со ссылкой для подтверждения подписки, после чего Вам будет необходимо активировать по ссылке свою подписку в течение 7 дней. |
EnglishNEWS-рассылкаАБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТАСкачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP на 30 дней! Отзывы о насНовости JTAG-Университета 07.05.2012 г.Мы рады сообщить нашим читателям и подписчикам, что на днях в академическом
издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, выходит в свет монография
д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT»
17.12.2011 г.Выложена статья «Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)». 05.11.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 11. 2011 «Тестирование ICT: векторное или безвекторное?» 25.08.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 9. 2011 «Еще раз о внутрисхемном тестировании ICT (окончание)» 28.07.2011 г.Выложена статья из журнала «КиТ» № 8. 2011 «Снова о внутрисхемном тестировании (продолжение)» Новости JTAG.ТЕСТПресс-релизы
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.![]() |

| Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография | |
| Написать вебмастеру |
© JTAG.ТЕСТ, 2009. Все права защищены. |