JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Опросный лист заказчика / регистрация на сайте

Для получения доступа к циклу статей «Основы теории и практики тестопригодного проектирования (DFT), граничного сканирования (JTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT)» необходимо заполнить предлагаемый ниже Опросный лист заказчика (обязательные для заполнения поля отмечены звездочкой *, и это действительно означает, что неверно заполненные листы рассмотрены НЕ будут), а затем перейти по следующей ссылке, войти в любую из статей списка и оплатить (всего 500 рублей на полгода!) абонемент на чтение всех (!) статей, как тех, которые уже вышли, так и тех, которые только будут за эти полгода написаны и опубликованы. Этот абонемент является формой оплаты обучения в JTAG-университете и предусматривает возможность задавать любые вопросы и получать профессиональные ответы д-ра JTAG (по переписке, ) по тематике статей цикла в течение всего срока абонемента. Дешевле — только даром!

Для подписки на новостные рассылки достаточно выбрать тип рассылки. На указанный адрес e-mail придет письмо со ссылкой для подтверждения подписки, после чего Вам будет необходимо активировать по ссылке свою подписку в течение 7 дней.


Информация для авторизации
Ваш адрес e-mail (логин):*
Пароль:*
Повторить пароль:*
Контактное лицо:
Фамилия:*
Имя:*
Отчество:
Должность:*
Телефон:*
Компания:
Название компании:*
Страна, город:*
Нам интересно и мы хотели бы знать:
Знаете ли Вы о существовании нашего JTAG-университета по адресу http://jtag-test.ru/JTAGUniversity/Abonnement.php?* Да
Нет
Если ДА, то почему Вы к нему до сих пор не подключились? Стоимость абонемента 500 рублей на полгода — это непосильная плата за уникальные сведения?*
Используете ли Вы для тестирования (обратите внимание — именно ТЕСТИРОВАНИЯ!) Вашей электроники те или иные системы JTAG (Boundary-Scan)?* Да
Нет
Если ДА, то какие именно системы и насколько успешно?*
Если НЕТ, планируете ли Вы подобные системы использовать в ближайшем будущем, и какие именно?* ОЧЕНЬ!
Пока не решили
Хотите ли Вы получить бесплатную помощь в выборе вариантов систем JTAG (Boundary-Scan)?* Да
Нет
Посещали ли Вы страницу нашего сайта http://jtag-test.ru/Solutions/onTAP_deal.php? Если до сих пор нет — зря, настоятельно рекомендуем!
Используете ли Вы для тестирования электроники внутрисхемные тестеры (ICT)?* Да
Нет
Если ДА, то какие тестеры и насколько успешно?*
Спасибо за заполнение листа!
 
Подпишитесь на новостные рассылки
Новости JTAG.ТЕСТ:
Новости JTAG-Университета:
Введите код с картинки:*
 

English

NEWS-рассылка

АБОНЕМЕНТ JTAG-УНИВЕРСИТЕТА


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Университета

Новости JTAG.ТЕСТ

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. на www.jtag-test.ru/SoftAndHard/SODIMM.php.
Началась подготовка к 10-му юбилейному симпозиуму EWDTS, который пройдет в Харькове.
EWDTS


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Университет | Партнеры и заказчики | Поддержка | JTAG-форум | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.