JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Follow us on Linkedin!

Модули JEM_DIMM/SODIMMTM

JTAG-модули для тестирования разъемов памяти DDR2 и DDR3 типов DIMM/SODIMM

Основные характеристики

JTAG-модули JEM_DIMM/SODIMM компании JTAG.TECT, предназначенные для тестирования разъемов памяти DDR2 и DDR3 типов DIMM/SODIMM, имеют следующие базисные характеристики:

  • выполнение JTAG-тестов для контроля качества монтажа разъемов типов DIMM/SODIMM на печатные платы, включая обнаружение всех обрывов и коротких замыканий как на всех функциональных контактах, так и на всех контактах питания и земли;
  • каждый контакт ввода-вывода печатной платы, подключенный к разъему DIMM/SODIMM, тестируется на чтение, запись, двунаправленность и состояние с высоким импедансом;
  • полная поддержка протокола граничного сканирования (JTAG, Boundary-Scan, IEEE 1149.1);
  • полная совместимость с системами разработки JTAG-тестов и их прогона следующих JTAG-платформ:





  • Модули JEM_DIMM/SODIMM можно вставлять и вынимать из разъема памяти DIMM/SODIMM без выключения питания тестируемой платы (hot-swap)
  • Поддержка тестирования следующих типов разъемов памяти DIMM/SODIMM (стандарт JEDEC Std.21-C):
  • DIMM (Dual In-line Memory Module), miniDIMM, microDIMM, VLP DIMM;
  • SODIMM (Small Outline Dual In-line Memory Module);
  • SORDIMM (Small Outline Registered Dual In-line Memory Module);
  • SOCDIMM (Small Outline Clocked Dual In-line Memory Module);
  • VLP SORDIMM (Very Low Profile Small Outline Registered Dual In-line Memory Module);
  • FBDIMM (Fully Buffered Dual In-line Memory Module);
  • UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM);
  • Разъемы CompactFlash с форм-фактором по заказу.
  • Модули JEM_DIMM/SODIMM поставляются с полной программной поддержкой как для тестирования печатных плат, так и для самотестирования модулей
Рис. 1.Инструменты в составе ИС-1687

Строим свою электронику.

Семейство JTAG-модулей JEM_DIMM/SODIMM включает в себя в настоящий момент следующие модули (при необходимости в модулях для других типов разъемов DIMM/SODIMM обращайтесь в компанию JTAG.TECT ():

Тип модуля Наименование модуля при заказе     Семейство модулей
  72 pin   SODIMM
100 pin SODIMM
144 pin SODIMM
200 pin SODIMM
204 pin SODIMM
200 pin SORDIMM
200 pin SOCDIMM
244 pin VLP Mini-RDIMM
240 pin VLP RDIMM
200 pin VLP SORDIMM
168 pin DIMM
184 pin DIMM
240 pin FBDIMM
240 pin VLP DIMM
240 pin UDIMM
244 pin miniDIMM
244 pin VLP miniDIMM
144 pin microDIMM
172 pin microDIMM
214 pin microDIMM
Модуль CompactFlash
  JEM_SODIMM72
JEM_SODIMM100
JEM_SODIMM144
JEM_SODIMM200
JEM_SODIMM204
JEM_SORDIMM200
JEM_SOCDIMM200
JEM_VLP-mRDIMM244
JEM_VLP-RDIMM240
JEM_VLP-SORDIMM200
JEM_DIMM168
JEM_DIMM184
JEM_FBDIMM240
JEM_VLPDIMM240
JEM_UDIMM240
JEM_mDIMM244
JEM_VLPmDIMM244
JEM_uDIMM144
JEM_uDIMM172
JEM_uDIMM214
JEM_FlashCard
  SODIMM
SODIMM
SODIMM
SODIMM
SODIMM
SODIMM
SODIMM
DIMM
DIMM
DIMM
DIMM
miniDIMM
microDIMM
microDIMM
microDIMM
VLP-DIMM
VLP-DIMM
VLP-SORDIMM
VLP-miniDIMM
VLP-miniDIMM
(форм-фактор — по заказу)
Внешний вид модуля JEM_SORDIMM200

Рис. 1. Внешний вид модулей JEM_SODIMM200 и JEM_SODIMM200_SOM.

Разъем SORDIMM на печатной плате

Рис. 1a. Разъем SORDIMM на печатной плате.

Разъем SORDIMM на печатной плате

Рис. 2. Внешний вид модуля JEM_DIMM240.

Внешний вид модуля JEM_SORDIMM200

Рис. 3. Внешний вид модуля JEM_SORDIMM200.

Разъем SORDIMM на печатной плате

Рис. 4. Внешний вид модуля JEM_DIMM184.

Разъем SORDIMM на печатной плате

Рис. 5. Внешний вид модуля JEM_UDIMM240-DDR3.

НАЗНАЧЕНИЕ И ПРИНЦИП РАБОТЫ

Весьма популярными в современной электронной схемотехнике являются карточки памяти типа DIMM/SODIMM с печатными контактами (ламелями), использующие своеобразный разъем (рис. 1а) для подключения к основной печатной плате. Существует множество разнообразных семейств таких карточек, и каждое из этих семейств содержит стандартизованные вариации по размерам и количеству печатных контактов — от 72 до 244 контактов на одной карточке.

Тестирование исправности монтажа на печатной плате разъемов для таких карточек посредством "диалога" в протоколе JTAG со вставленной в него карточкой памяти DIMM/SODIMM практически не применяется, поскольку имеет целый ряд ограничений. Прежде всего, такой тест может охватывать только те функциональные цепи и контакты разъема, которые используются в схеме тестируемой печатной платы, при этом некоторые цепи и контакты разъема (конфигурирование памяти, цепи управления и т.д.) могут остаться за рамками теста. Что еще более важно — за рамками теста остаются многочисленные контакты питания и земли разъема DIMM/SODIMM. Более того, диагностические возможности JTAG-тестов, опирающихся на взаимодействие с самой карточкой памяти, весьма ограничены, время выполнения таких тестов может быть неоправданно велико, а неисправности основной печатной платы в цепях синхронизации и управления, а также возможные ошибки при тестопригодном проектировании таких цепей могут обусловить полную непригодность подобного подхода. Следует также учитывать, что абсолютное большинство карточек DIMM/SODIMM — это SDRAM-памяти DDR2 и DDR3, рабочая частота которых весьма велика и почти несовместима с возможностями протокола JTAG.

Применение специализированных модулей JEM_DIMM/SODIMM компании JTAG.TECT для JTAG-тестирования разъемов DIMM/SODIMM, имеющих любое стандартное число контактов, совершенно свободно от приведенных выше ограничений. Для этого тестовый модуль JEM_DIMM/SODIMM на время тестирования вставляется в тестируемый разъем вместо карточки памяти DIMM/SODIMM и через находящийся на нем интерфейсный разъем подключается к одному из ТАР-портов того или иного контроллера, представляя собой отдельную JTAG-цепочку (рисунок 6), или включаются в JTAG-цепочку тестируемой ПП (рисунок 6а). С помощью тестовых модулей JEM_DIMM/SODIMM быстро и однозначно обнаруживаются неисправности типа обрыва или короткого замыкания не только на всех функциональных контактах разъема DIMM/SODIMM, но и на его многочисленных контактах питания и земли, проверяется целостность двунаправленных связей на всех функциональных контактах и управление ими со стороны тестируемой печатной платы, а время тестирования этого разъема становится пренебрежимо малым. В сущности, тест разъема DIMM/SODIMM становится составной частью обычного теста межэлементных связей, и все существующие системы автоматической генерации JTAG-тестов поддерживают построение тестов с модулями JEM_DIMM/SODIMM, обеспечивая высокий уровень покрытия дефектов монтажа этих разъемов.

Модули JEM_SODIMM200_SOM специально разработаны для тестовых применений с разъемами модулей SOM компании Variscite с целью кардинального увеличения тестопригодности материнских плат, несущих такие и подобные им модули.


Принцип работы модулей тестирования JEM_DIMM/SODIMM

Рис. 6. Принцип работы модулей тестирования JEM_DIMM/SODIMM без наружного ТАР-кабеля.

  
Принцип работы модулей тестирования JEM_DIMM/SODIMM

Рис. 6a. Принцип работы модулей тестирования JEM_DIMM/SODIMM с наружным ТАР-кабелем.

Интересной особенностью модулей JEM_DIMM/SODIMM является то, что их применение позволяет тестировать правильность монтажа резисторов терминации VTT, обычно подключаемых в цепи шины адреса и управления карточками памяти DIMM/SODIMM (рисунок 6б). Если, к примеру, эти цепи управляются микропроцессором IBM PPC460EX, соответствующие контакты ввода-вывода которого определены как JTAG-выходы, то единственной возможностью их JTAG-тестирования является применение модулей JEM_DIMM/SODIMM.

Резисторы терминации VTT для карточек памяти JEM_DIMM/SODIMM

Рис. 6б. Резисторы терминации VTT для карточек памяти JEM_DIMM/SODIMM.

УСТАНОВКА МОДУЛЕЙ JEM_DIMM/SODIMM

Модули JEM_DIMM/SODIMM поставляются заказчику в следующей комплектации:

  • Модуль JEM-DIMM/SODIMM со специальным файлом BSDL модуля
  • Кабель JEM для подключения к JTAG-адаптеру (при необходимости)

ПРИМЕЧАНИЕ: программное обеспечение, необходимое для пользователей системы onTAP Flynn Systems, полностью встроено в систему и доступно из ее интерфейса.

Убедитесь в том, что все указанные выше компоненты поставки присутствуют и имеют никаких видимых дефектов или повреждений. При обнаружении каких-либо дефектов или повреждений поставьте в известность компанию JTAG.TECT: .

Разъем кабеля JEM предназначен для подключения к любому контроллеру JTAG-платформы заказчика — непосредственно или через соответствующие переходные кабели. Переходные кабели для любого контроллера JTAG-платформы заказчика (onTAP Series 4000 фирмы Flynn Systems, ScanExpress фирмы Corelis, ProVision фирмы JTAG Technologies, ScanWorks фирмы Asset, CASCON фирмы Goepel, XJRunner фирмы XJTAG) поставляются по дополнительному заказу или могут быть изготовлены заказчиком самостоятельно.

Минимальное количество разъемов для JTAG-кабелей (портов ТАР) на контроллере JTAG-платформы заказчика равно двум, как показано на рисунке 6, или одному, как показано на рисунке 6а. Количество необходимых портов ТАР в общем случае рассчитывается как сумма X+Y, где X — число одновременно тестируемых разъемов памяти DIMM/SODIMM, а Y — число портов ТАР тестируемой платы.

При необходимости одновременного тестирования более одного разъема DIMM/SODIMM каждый из них может быть подключен к отдельному порту ТАР, или все они подключаются к однопортовому цепочечному кабелю JEM_Chain (cм. рисунок 7) фирмы JTAG.TECT, поставляемому по дополнительному заказу.

При наличии у заказчика лишь однопортового контроллера ТАР, или если сумма X+Y превышает число портов ТАР в контроллере заказчика, можно использовать разветвитель JTAG-шины TAP-Di фирмы JTAG.TECT, предназначенный для программируемого расширения количества ТАР-портов и поставляемый по дополнительному заказу.

Подключение однопортового цепочечного кабеля JEM_Chain

Рис. 7. Подключение однопортового цепочечного кабеля JEM_Chain.

Пример подключения модуля JEM_SORDIMM200

Рис. 8. Пример подключения модуля JEM_SORDIMM200.

ПРИМЕНЕНИЕ МОДУЛЕЙ JEM_DIMM/SODIMM В JTAG-ТЕСТИРОВАНИИ

Модули JEM_DIMM/SODIMM полностью встроены в систему onTAP фирмы Flynn Systems, так что для интегрирования их в тесты межэлементных связей, разрабатываемые в этой системе, достаточно выбрать соответствующий модуль JEM_DIMM/SODIMM в интерфейсе разработки тестов системы onTAP.

Для интегрирования модулей JEM_DIMM/SODIMM в остальных JTAG-платформах (onTAP Series 4000 фирмы Flynn Systems, ScanExpress фирмы Corelis, ProVision фирмы JTAG Technologies, ScanWorks фирмы Asset, CASCON фирмы Goepel, XJRunner фирмы XJTAG) заказчики получают все необходимое программное обеспечение для тестирования печатных плат, необходимо лишь выполнить регенерацию теста межэлементных связей в системе разработки тестов соответствующей JTAG-платформы.

Скопируйте полученный файл BSDL JEM_module.bsm в папку проекта JTAG-теста, внимательно ознакомьтесь с инструкциями в прилагаемом там же файле JEM_Read_me.doc и действуйте в соответствии с ними.


САМОТЕСТИРОВАНИЕ МОДУЛЕЙ JEM_DIMM/SODIMM

Cамотестирование модулей JEM_DIMM/SODIMM заключается в тестировании целостности JTAG-цепочки между JTAG-контроллером и самим модулем, а также в тестировании отсутствия коротких замыканий между печатными контактами (ламелями) модуля. При самотестировании модули JEM_DIMM/SODIMM не вставляются в разъемы памяти DIMM/SODIMM тестируемой платы, так что их запитывание происходит от внешнего источника питания.

Для пользователей системы onTAP фирмы Flynn Systems программа самотестирования модулей JEM_DIMM/SODIMM полностью встроена в систему, достаточно лишь выбрать соответствующий модуль на странице самотестирования модулей JEM_DIMM/SODIMM интерфейса системы onTAP.

Для пользователей остальных JTAG-платформ заказчики получают все необходимое программное обеспечение для самотестирования модулей JEM_DIMM/SODIMM, необходимо лишь выполнить регенерацию теста самотестирования в системе разработки тестов соответствующей JTAG-платформы в соответствии с инструкциями в прилагаемом файле JEM_Read_me.doc.


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Библиотеки

22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG.ТЕСТ

08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.