JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Follow us on Linkedin!

Расширитель шины JTAG (JTAPEXT)

Расширитель шины JTAG
Расширитель шины JTAG предназначен для использования с 1 и 2-х портовыми JTAG TAP контроллерами и позволяет расширить каждый порт до 4-х последовательно соединенных JTAG цепочек.
Расширитель JTAPEXT обладает следующими свойствами:
  • Буферизация сигналов TCK и TMS для каждого вторичного порта. Диапазон частот сигнала TCK до 100 MHz.
  • Использование внешнего ИП (5V – 12V) или напряжений (3.0V – 3.6V) (VCC1, VCC2) от одного из вторичных портов, выбираемых джампером, для запитки.
  • Каждый вторичный порт зашунтирован по умолчанию и становится активным при подключнии к нему кабеля.
  • Каждый вторичный порт имеет 2 вывода для измерения внешних напряжений. Выбор порта для измерения напряжений осуществляется путем программирования 2 линий ввода-вывода через первичный порт.
  • Имеются 6 дополнительных линий ввода-вывода от первичного порта к каждому вторичному порту.
  • Доступен в пластиковой коробке для внешнего подключения или без коробки для встраивания в тестовые адапторы.

Разветвитель JTAG-шины TAP-Di

Разветвитель JTAG-шины TAP-Di предназначен для произвольного конфигурирования внутрисхемных JTAG-цепочек по выбору тест-инженера, до начала выполнения JTAG-теста или во время его выполнения. Разветвитель TAP-Di поставляется в следующих конфигурациях (и их всевозможных подконфигурациях):

  • TAP-Di.4 (расщепляет первичный TAP на 4 вторичные JTAG-цепочки)
  • TAP-Di.8 (расщепляет первичный TAP на 8 вторичных JTAG-цепочек)
  • TAP-Di.16 (расщепляет первичный TAP на 16 вторичных JTAG-цепочек)

Разветвитель TAP-Di позволяет конфигурировать как количество вторичных JTAG-цепочек, так и порядок их последовательного включения. Если, например, имеются 4 вторичные JTAG-цепочки ТАР1 (3,3 B), ТАР2 (2,5 B), ТАР3 (1,8 B), ТАР4 (1,5 B), то по выбору тест-инженера первичный ТАР может переключаться на каждую из них по отдельности, или же на их произвольные последовательности в произвольном порядке (рис. 1):

  • ТАР1 (3,3 B) + ТАР2 (2,5 B) + ТАР3 (1,8 B) + ТАР4 (1,5 B)
  • ТАР2 (2,5 B) + ТАР4 (1,5 B) + ТАР3 (1,8 B)
  • ТАР3 (1,8 B) + ТАР4 (1,5 B)
  • ТАР4 (1,5 B) + ТАР3 (1,8 B) + ТАР2 (2,5 B)
  • и т.д.

Разветвитель TAP-Di автоматически распознает наличие включенных вторичных JTAG-каналов ТАР, давая возможность подключить их к первичному каналу ТАР в любом желаемом наборе и последовательности, и в любом сочетании напряжений питания ТАР (3,3 B, 2,5 B, 1,8 B, 1,5 B) каждого из вторичных каналов, подавая на них затем ту или иную последовательность JTAG-тестов, а также для внутрисхемного конфигурирования ПЛМ или FPGA, прожига флэш-памяти, выполнения любых JTAG-кластерных тестов.

Разветвитель TAP-Di обеспечивает также групповой (gang) режим JTAG-тестирования нескольких одинаковых плат или JTAG-цепочек, одновременно подключенных к нескольким вторичным ТАР-портам. Такая структура тестового стенда значительно повышает производительность тестирования в массовом (средне- и крупносерийном) производстве плат. По специальному алгоритму свертки CRC (LFSR) вычисляется сигнатура принимаемого выходного сигнала TDO каждой из JTAG-цепочек, а затем эта сигнатура автоматически сравнивается с заранее полученной сигнатурой заведомо исправной JTAG-цепочки или платы, и результат в форме «прошел–не прошел» выдается тест-оператору. Ко вторичным портам TAP-Di можно подключить любую ПП или узел с JTAG-поддержкой (рис. 2,3), а также, посредством модуля JEMIO (см. рис. 4 и здесь), — любую ПП вообще!

Кабель JEM для подключения к JTAG-адаптеру

Рис. 1. Структура разветвителя JTAG-шины TAP-Di

TAP-Di Common and Gang Test Modes

Рис.2. Разветвленный и групповой режимы JTAG-тестирования с TAP-DiTM

TAP-Di Gang Flash Mode for JTAG-based boards

Рис.3. Групповой режим прожига флэшей с TAP-DiTM для JTAG-ПП

TAP-Di Gang Flash Mode for non-JTAG boards

Рис.4. Групповой режим прожига флэшей с TAP-DiTM и JEMIOTM для не-JTAG-ПП

Специальный режим работы разветвителя TAP-Di (Gang-F) обеспечивает групповой режим прожига нескольких одинаковых микросхем флэш-памяти, одновременно подключенных к нескольким вторичным ТАР-портам. Такая структура тестового стенда существенно повышает производительность прожига микросхем флэш-памяти при массовом (средне- и крупносерийном) производстве плат. Если, к примеру, время прожига одной ИС флэш-памяти равно N сек, то при подключении К одинаковых плат с ИС флэш-памяти к TAP-Di в режиме Gang-F пользователь может сократить время прожига такой партии плат с N*К сек до N/К сек!

Кроме возможности организации JTAG-тестирования и одиночного или группового режимов прожига микросхем флэш-памяти для ПП, поддерживающих JTAG-режим (рис. 2,3), разветвитель TAP-Di позволяет выполнять все эти операции также и для ПП, вовсе не поддерживающих JTAG-режим (рис. 4) при помощи модуля JEMIO. В дополнение к возможностям прожига обычных ИС флэш-памяти, разветвитель TAP-Di дает возможность тестировать и внутрисхемно прожигать ИС с последовательным протоколом, такие как SMBus, SPI, I2C и MicroWire (рис. 1).

Замечательной особенностью разветвителя TAP-Di является использование его 4-х входов, предназначенных для внутрисхемных измерений и контроля постоянных напряжений (рис. 1). Такие аналоговые измерения в протоколе JTAG являются уникальными и могут выполняться в любой из известных JTAG-систем.

Разветвитель TAP-Di снабжен 32-мя внешними JTAG-управляемыми выходами (рис. 1), предназначенными для простой организации любых внутрисхемных условий тестирования и поддержки любых JTAG-ограничений внутрисхемных ИС.

Разъем прожига предназначен для конфигурирования TAP-Di и представляет собой стандартный 10-контактный разъем с порядком и назначением контактов как у JTAG-разъемов фирмы Аltera.

Входной разъем представляет собой стандартный 20-контактный разъем, который, в дополнение к обычным пяти контактам ТАР-порта, снабжен также тремя дополнительными контактами CONFIG, /WE и RDY/BSY. Контакт CONFIG входного разъема предназначен для переключения схемы разветвителя TAP-Di в один из двух основных режимов: конфигурирования или тестирования, а контакты /WE и RDY/BSY - для поддержки ускоренного прожига компонент флэш-памяти.

Выходные разъемы представляют собой стандартные 20-контактные разъемы, которые, в дополнение к обычным пяти контактам ТАР-порта, снабжены также тремя дополнительными контактами PRESENCE, /WE и RDY/BSY. Контакт PRESENCE выходного разъема предназначен для автоматического обнаружения факта подключения вторичного ТАР-порта к соответствующему разъему.

Разветвитель JTAG-шины TAP-Di полностью совместим со следующими системами JTAG-тестирования:

  •   Flynn Systems' onTAP Series 4000
  •     
  •   Corelis' ScanExpress
  •       
  •   JTAG Technologies' ProVision
  •     
  •   Asset' ScanWorks
  •     
  •   Goepel' CASCON
  •     
  •   XJTAG' XJRunner
  •     
 
  • Разветвитель TAP-Di также полностью совместим с программой JTAG Live — совершенно БЕСПЛАТНОЙ программой отладки плат, с помощью которой вы можете быстро и просто управлять отдельными внутрисхемными контактами и цепями, считывать их логические состояния и выполнять несложные кластерные JTAG-тесты, все это — абсолютно бесплатно!
 

Основные преимущества применения разветвителя JTAG-шины TAP-Di следующие:

 
  • обеспечивает высокий и программируемый коэффициент ветвления одного канала интерфейса JTAG для тестирования множества отдельных плат и узлов;
  • обеспечивает возможность простого и мобильного перепрограммирования на объекте эксплуатации плат и систем таких микросхем, как ПЛМ, FPGA, ЭППЗУ, флэш, I2C и др.;
  • обеспечивает групповой режим JTAG-тестирования нескольких одинаковых плат или JTAG-цепочек, одновременно подключенных к нескольким вторичным ТАР-портам в системе, находящейся на объекте, или отдельных плат на участке монтажа;
  • обеспечивает внутрисхемные измерения и мониторинг напряжений постоянного тока по каналам JTAG;
  • обеспечивает чрезвычайно простой и гибкий режим JTAG-тестирования межсвязей (кабелей, кросс-плат) между несколькими произвольными платами в рамках тестируемой системы.

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.