JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Follow us on Linkedin!

Дистанционный JTAG-и флэш-программатор JTAG Overseer™

Наш новый продукт JTAG Overseer® представляет собой эффективный программно-аппаратный дистанционный монитор и средство JTAG-тестирования отдельных печатных плат и систем, таких как телекоммуникационные станции, роутеры, мультифреймовые компьютеры и т.д. JTAG Overseer® позволяет обслуживающему персоналу осуществлять полный контроль над каналами ввода/вывода и регистрами, доступными посредством JTAG-структур со сравнительно невысокими затратами.

Аппаратура JTAG Overseer® дает возможность оператору центра управления данными эффективно осуществлять мониторинг всей системы и максимизировать ее ресурсы, представляя собою мостик между сетевыми серверами, местными JTAG-приложениями и системными элементами. В системе не предполагается применения ни структур "multi-drop", ни структур "master-slave", а также не предъявляется никаких специальных требований к материнской плате. Устройство JTAG Overseer®, базирующееся на StarTest's TAP-Di®, всегда ведущее, а все остальные системные платы всегда ведомые.

Аппаратура JTAG Overseer® обеспечивает оператору получение высоких характеристик управления, всегда включена и дружественна к окружающей среде. Мощность потребления системы — всего 2,3 Вт в холостом режиме, и 7 Вт при 100% загрузке процессора. Система не нуждается ни в каком охлаждении.

Программное обеспечение системы — JOver-Runner® — применяется в двух режимах: JOver-SAMPLE®/JOver-EXTEST® и JOver-BURNER®.

Режим JOver-SAMPLE® предназначен для внутрисистемного удаленного сбора и мониторинга данных об управляемой системе без всякого вмешательства в ее функционирование посредством JTAG-команд Sample/Preload, Bypass, Idcode.

Режим JOver-EXTEST® предназначен для локального и удаленного JTAG-тестирования на всех JTAG-платформах (Flynn onTAP, Asset, Corelis, JTAG Tech, Gopel, etc.).

Режим JOver-BURNER® предназначен для программирования (прожига) флэш-памяти в двух режимах — единичном и/или местном (Single) и/или удаленном и/или групповом (Gang).


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Библиотеки

22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG.ТЕСТ

08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.