JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Follow us on Linkedin!

Модули наружного JTAG-тестирования

Модули наружного JTAG-тестирования (Мастер-кластер JEMIO) предназначены для организации тестового доступа к цепям, подключенным к наружным разъемам тестируемых плат, если эти цепи недостижимы никакими другими тестовыми средствами. Обеспечение такого тестового доступа позволяет существенно увеличить уровень тестового покрытия плат и зачастую исключает или заметно уменьшает необходимость в использовании других средств тестирования.

Семейство Мастер-кластер JEMIO содержит ряд модулей, позволяющих управлять цепями наружных разъемов и фиксировать их состояния. Каждая из тестируемых цепей управляется индивидуально и может быть предварительно конфигурирована как вход, выход, вход-выход или состояние с высоким импедансом. JTAG-цепочка модулей JEMIO легко комбинируется с цепочками тестируемых плат и включается в тесты инфраструктуры и тесты межэлементных связей. Модули JEMIO могут использоваться независимо или встраиваться в тестовые установки плат и узлов.

Использование Мастер-кластеров JEMIO автоматизировано во всех приведенных ниже системах JTAG-тестирования. Их применение позволяет выполнять гибкие и недорогие JTAG-тесты для краевых и внутрисхемных разъемов плат, контрольных точек и любых цепей с наружным доступом. Встроенные в модули JEMIO ПЛМ обеспечивают двунаправленные каналы тестирования по всем подключенным к ним цепям, нетестопригодным иными средствами.


            Мы рады предоставить нашим пользователям новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала. Модуль JEMIO-LVDS может быть конфигурирован по желанию пользователя, неиспользуемые LVDS-каналы по умолчанию остаются обычными JEMIO TTL I/O каналами.

Вдобавок к услугам наших пользователей — новейший аппаратный модуль JEM_MiniPCI, представляющий собой эффективное дополнение к кластерному JTAG-тестированию цепей miniPCI. Модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. По требованию заказчика доступны любые конфигурации модуля типа JEM_MiniPCI-T III, а также модулей типов JEM_MiniPCI-T II и JEM_MiniPCI-T I.

     

Модуль JEMIO.1-74

  

Применение JEMIO для JTAG-тестируемых ПП

  

Применение JEMIO™ для ПП без JTAG-поддержки

   

Основные характеристики семейства модулей Мастер-кластер JEMIO:

 
  • Выполнение JTAG-тестов межэлементных связей и кластерных тестов плат и узлов;
  • Поддержка широкого диапазона одно- или двунаправленных контактов ввода-вывода следующими моделями:
Тип модуля Наименование модуля при заказе
    74 pin JEMIO.1
  148 pin JEMIO.1
  38 pin JEMIO.1-LVDS
  yyy pin JEMIO.6
  xx pin JEMIO.1-UD
  JEMIO.1-74
JEMIO.1-148
JEMIO.1-LVDS-38
JEMIO.6-yyy
JEMIO.1-UDxx

Примечание: Модули типа JEMIO.1-UDxx выполняются по требованию заказчика, где хх — количество требуемых заказчиком входо-выходов.

 
  • Тестирование контактов с постоянными напряжениями и контактов, подключенных к земле
  • Каждый контакт любого модуля JEMIO может выполнять функции входа, выхода, входо-выхода или находиться в состоянии с высоким импедансом
  • Горячее включение: модули Мастер-кластер JEMIOTM можно подключать и отключать без переключения питания тестируемой платы или узла
  • Модули содержат встроенный JTAG-порт, работающий в протоколах IEEE 1149.1 (JEMIO.1) и IEEE 1149.6 (JEMIO.6) в зависимости от модели
  • Поставка модулей Мастер-кластер JEMIO включает в себя все необходимое программное обеспечение и документацию для их применения в любой из указанных ниже систем JTAG-тестирования
  • Полная совместимость со следующими системами JTAG-тестирования:
  •   Flynn Systems' onTAP Series 4000
  •     
  •   Corelis' ScanExpress
  •       
  •   JTAG Technologies' ProVision
  •     
  •   Asset' ScanWorks
  •     
  •   Goepel' CASCON
  •     
  •   XJTAG' XJRunner
  •     
 
  • Полная совместимость с программой JTAG Live — совершенно БЕСПЛАТНОЙ программой отладки плат, с помощью которой вы можете быстро и просто управлять отдельными внутрисхемными контактами и цепями, считывать их логические состояния и выполнять несложные кластерные JTAG-тесты, все это — абсолютно бесплатно!
    


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Test

Август 2017.
Новые возможности в JTAG Manager Ver.4.X.
Интерактивное окно "Вид тестируемой ПП".
26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG-Test

26.04.2017 г.
Ценовая революция в JTAG Manager.
08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.