JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Отзывы преподавателей и доцентов университетов по индивидуальной стажировке

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

В ноябре 2011 мы проходили стажировку по теме «Технологии JTAG и тестопригодного проектирования (DFT) электронных схем» в фирме JTAG.TECT (Израиль) у ведущего мирового эксперта в этой области, д-ра Ами Городецкого, обладающего огромным объемом теоретических и практических знаний в этой области.

Обучающий недельный курс содержал 14 разделов, в которых рассматривались как основы данного направления диагностики современных электронных устройств, так и перспективные направления, описываемые новой группой стандартов JTAG. Материал излагался в виде анимированного слайд-курса, на чистейшем живом русском языке, с необходимой и дозированной интерпретаций ключевых понятий по-английски, и сопровождался нетривиальными примерами. Уровень изложения материалов курса доступен для специалистов уровня инженера, имеет хорошую интерактивную форму и охватывает практически всю проблематику данного направления. Курс обучения мы завершили лабораторной работой по краткому изучению программного пакета onTAP фирмы Flynn Systems, используемого для JTAG-тестирования плат электроники с возможностью локализации дефектов до элементного уровня.

Приобретенные нами при стажировке теоретические знания, а также анимированный слайд-курс лекций д-ра А. Городецкого станут основой при подготовке нашим университетом специалистов для ведущих предприятий электронной промышленности и помогут нам организовать востребованную предприятиями нашего региона практическую работу по внедрению технологий тестопригодного проектирования и структурного тестирования в разрабатываемые у нас сложные изделия электронной техники.

Сотрудники Научно-Исследовательского Центра
Самарского Государственного аэрокосмического университета (СГАУ),
           доцент каф. электротехники, к.т.н. Курицкий А.А.
           инженер каф. электротехники Борисов О.Ю.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Библиотеки

22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG.ТЕСТ

08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.