JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems

Двенадцатая статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В двенадцатой статье цикла «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» предлагается обзор аппаратных средств системы onTAP фирмы Flynn Systems, предназначенных для сопряжения с JTAG-тестируемыми ПП и узлами.

... И любой вопрос находит свой ответ.

А. Макаревич

В седьмой статье нашего цикла [1] были вкратце рассмотрены основы построения и особенности программного обеспечения системы onTAP американской фирмы Flynn Systems (www.flynn.com), предназначенной для подготовки и проведения JTAG-тестирования, однако не затрагивались их аппаратные средства, предназначенные для сопряжения с тестируемыми ПП и узлами. В очередной статье цикла мы сосредоточимся на рассмотрении аппаратного обеспечения этой весьма популярной системы прогона JTAG-тестов, на базе которой собираются стенды JTAG-тестирования и внутрисхемного программирования и прожига флэш-памяти в лабораторных условиях и на производственных линиях монтажа ПП.

Заметной особенностью аппаратных средств системы onTAP, отличающей их от аппаратных средств аналогичных систем, является удивительная простота и мобильность интерфейса onTAP и, соответственно, его невысокая цена. Аппаратные средства onTAP состоят из следующих трех групп: два интерфейсных USB-адаптера FS-9160 и FS-9165, поддерживающие последовательный интерфейс передачи данных USB, плата буферизованного расширителя ТАР-портов FS-9180 и целый ряд JTAG-кабелей других фирм (Xilinx, Altera, Lattice и т.д.). Назначение обоих USB-адаптеров, подключаемых между ПК и тестируемой ПП — поддержка рабочих напряжений JTAG-цепочек в диапазоне от 1,8В до 5В, повышение нагрузочной способности и помехозащищенности шины JTAG, и, как следствие — значительное увеличение допустимого расстояния между тестовым стендом на базе ПК и тестируемой ПП без дополнительных ограничений частоты TCK.

Интерфейсные USB-адаптеры и программное обеспечение onTAP позволяют легко и весьма мобильно, практически без ограничений, расширять количество используемых в тесте JTAG-цепочек, одинаковых или различных. Другими словами, при подготовке JTAG-теста для схемы, содержащей N JTAG-цепочек, необходимо иметь N адаптеров FS-9160 или N/2 адаптеров FS-9165. При использовании платы буферизованного расширителя ТАР-портов FS-9180 число адаптеров может быть существенно сокращено. Аналогичная аппаратная структура (с расширителем FS-9180 или без него) поддерживает также одновременное тестирование N одинаковых ПП, имеющих одну или несколько JTAG-цепочек; такая ситуация часто встречается при тестировании массового производства однотипных ПП.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.