JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress

Одиннадцатая статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В одиннадцатой статье цикла «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» приводится обзор аппаратных средств систем ScanWorks и ScanExpress, предназначенных для сопряжения с тестируемыми ПП и узлами.

Но трудно разобраться,

где правда где туман,

В потоке информации...

А. Макаревич

Основные поставщики средств и систем граничного сканирования непрерывно обновляют свой инструментарий, так что новичку (а иногда и вполне продвинутому пользователю) очень непросто разобраться в назначении и отличиях отдельных программных и/или аппаратных модулей той или иной системы и их месте в системе в целом, чтобы сравнить аналогичные по назначению фрагменты систем разных поставщиков средств ГС. Как уже отмечалось [1], ни аппаратные ни программные модули этих систем не взаимозаменяемы, поэтому выбор наиболее подходящей для пользователя системы из нескольких существующих на рынке представляет собой непростую оптимизационную задачу, а попытки ее решения не всегда происходят при полном понимании технических характеристик и особенностей предлагаемых к выбору систем.

В шестой статье нашего цикла [1] были рассмотрены основы построения и особенности программного обеспечения систем поддержки граничного сканирования американских фирм Asset и Corelis, однако не затрагивались их аппаратные средства, предназначенные для сопряжения с тестируемыми ПП и узлами. В этой статье мы сосредоточимся вкратце на аппаратном обеспечении этих двух широко распространенных тестовых систем ГС: ScanWorks и ScanExpress.

Диапазон аппаратных средств системы ScanWorks фирмы Asset довольно широк. Эта система может работать либо на основе обычного персонального компьютера (ПК), либо в виде встроенного ГС-контроллера. В наиболее распространенной конфигурации системы на базе ПК собираются стенды разработки и отладки программ ГС-тестирования, а также тестовые стенды прогона ГС-программ на производственных линиях. В качестве встроенного ГС-контроллера система с успехом применяется в тестерах ICT фирмы Agilent, таких как 3070 и i5000, а также для функционального тестирования на базе шасси PXI.

Аппаратуру системы ScanWorks можно представить в виде следующих пяти групп: контроллеры, интерфейсные адаптеры, буферные платы, модули ввода-вывода, аксессуары и кабели, из которых мы ограничимся рассмотрением лишь первых двух ввиду ограниченности места в журнальной статье. Все без исключения пользователи системы применяют тот или иной ее контроллер, которые, как правило, поставляются с одним или несколькими интерфейсными адаптерами. Основная функция ГС-контроллера ScanWorks — управление потоком тест-векторов из ПК при их подаче на тестируемую ПП или узел. Именно в ГС-контроллере как правило (но не всегда) происходит аппаратное преобразование данных и команд ГС-тестирования, поступающих из ПК от программного обеспечения системы, в сигналы управления контроллером ТАР тестируемой ПП в протоколах граничного сканирования IEEE 1149.1 или IEEE 1149.6 [2,3].

Система ScanWorks работает с контроллерами пяти типов, которые обеспечивают решение любых задач ГС-тестирования для любых схем, ПП и узлов:

  • однопортовый контроллер PCI-100;
  • многопортовый контроллер PCI-410;
  • портативный контроллер USB-100;
  • однопортовый контроллер PXI-100;
  • семейство дистанционных контроллеров RIC-1000.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.