JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP

Седьмая статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В предлагаемой вниманию читателей журнала седьмой статье серии «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» рассматриваются основы построения и особенности систем поддержки граничного сканирования фирм JTAG Technologies и Flynn. Аббревиатуры и названия сигналов и команд, введенные в предыдущих статьях серии, использованы здесь в основном без дополнительных ссылок.

Кто тут прав, кто не прав — я прошу вас, не надо, не спорьте...

А. Макаревич

Программно-аппаратная ГС-система ProVision голландской фирмы JTAG Technologies заменила собой предыдущее поколение так называемых «классических» инструментов (Classic Tools) этой фирмы, не распространяемых в России и поэтому не затрагиваемых в нашем обзоре, за исключением секвенсера AEX Manager, который используется во всех программных средствах, разрабатываемых этой фирмой.

ProVision представляет собой интегрированный ГИП, сопровождающий проект от загрузки списка линий тестируемой ПП (netlist) и файлов BSDL до генерации загружаемых в AEX Manager файлов APL для запуска результирующей тестовой последовательности. Стандартный тест инфраструктуры ГС-цепочки генерируется автоматически при генерации аппликаций для тестов межэлементных связей (Interconnect), а также тестов подтягивающих резисторов и резисторов, подключенных «на массу» (Pull-Up-Down Interconnect). В дополнение к этому, ProVision обеспечивает генерацию аппликаций для тестирования библиотечных кластеров ЗУ и кластеров, определяемых пользователем, а также генерацию программ прожига ИС флэш-памяти и процедур внутрисхемного программирования на основе файлов ВСП, импортированных из сторонних специализированных систем (см. рис. 10 [3]).

Проект начинается с загрузки списка линий ПП в любом из множества разнообразных форматов таких списков, получаемых изо всех известных САПР электронных схем [1], который затем преобразуется системой в ее внутренний формат jtn. Привязка тест-инженером компонентов схемы ПП к моделям, во множестве представленных в приложенной библиотеке моделей, выполняется через окно привязки типов элементов (рисунок 1). Здесь же определяются используемые в тестируемой схеме файлы BSDL.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.