JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress

Шестая статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В шестой статье цикла «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» рассматриваются основы построения и особенности систем поддержки граничного сканирования американских фирм Asset InterTech и Corelis. Аббревиатуры и названия сигналов и команд, введенные в предыдущих статьях серии, использованы здесь в основном без дополнительных ссылок.

Чтоб из тысяч несказанных слов вам сказать лишь одно...

А. Макаревич

В предыдущих статьях серии неоднократно использовался термин «ГС-тестер» и упоминались некоторые из систем, относящихся к этому определению. К программно-аппаратным системам, предназначенным для разработки и поддержки тестов ГС и внутрисхемного программирования (ВСП) в рамках протокола граничного сканирования, получившим в последнее десятилетие весьма широкое распространение в мире электроники, можно отнести следующие системы:

Эти (и некоторые другие, намного менее известные) системы имеют одно и то же назначение, более-менее схожие программные средства разработки и отладки тестов ГС, отличающиеся друг от друга (но не принципиально!) средства получения диагностической информации, и подобные (но совершенно не взаимозаменяемые!) аппаратные средства сопряжения с тестируемыми ПП и узлами. Различия между системами относятся к разнообразным сервисным средствам разработки программ и их отладки, удобству и эффективности поиска дефектов по результатам получаемой диагностики неисправностей, гибкости аппаратных средств сопряжения для применения в нестандартных ситуациях, совместимости с широким спектром других тестовых систем и встраиваемости в популярные графические интерфейсы пользователя (ГИП) и базы данных, к средствам анализа уровня тестопригодности и полноты покрытия неисправностей, а также к удобству и полноте документирования перечисленных особенностей ГС-систем.

Отличия ГС-систем выражаются также в следующем:

  • автоматизация разработки тестов в противоположность ручной обработке текстов промежуточных файлов;
  • дружественность графического интерфейса пользователя ГС-систем;
  • совместимость интерфейса прикладного программирования (API: Application Programming Interface) с популярными языками программирования, такими как С/С++, Tcl/Tk, Perl, Visual Basic, J#, и т.д.;
  • поддержка базирующихся в интернете библиотек тестовых модулей;
  • простота интеграции в другие тестовые платформы, например ICT, MDА (Manufacturer Defect Analysis), FPT (Flying Probe Tester), и т.д.;
  • совокупность аппаратных средств для сопряжения с тестируемыми ПП и узлами.

ГС-системы отличаются также уровнем поддержки пользователей (как со стороны фирмы-производителя, так и представителями на местах) и, разумеется, ценой.

В настоящей и следующей статьях серии будет дан краткий обзор основных программных средств первых четырех из приведенных выше систем ввиду ограничений, налагаемых размерами журнальной статьи.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.