JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Язык описания структур граничного сканирования

Третья статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В предлагаемой вниманию читателей журнала третьей статье серии «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» будет завершено рассмотрение наиболее употребимых команд ГС, а затем сделан обзор языка BSDL описания структур ГС. Аббревиатуры, названия сигналов, регистров и состояний ТАР, введенные в предыдущих статьях, будут использованы здесь в основном без дополнительных ссылок.

Наше общее детство прошло на одних букварях,

Оттого никому ничего объяснять и не надо...

А. Макаревич

Команды ГС, определяемые стандартом как обязательные (BYPASS, SAMPLE, PRELOAD, EXTEST), — их коды, используемые ими регистры и временные диаграммы выполнения этих команд были подробно рассмотрены в предыдущей статье серии [1]. Кроме перечисленных обязательных широко используются также дополнительные команды ГС. Третью статью серии мы начнем с беглого рассмотрения четырех наиболее употребимых из них: HIGHZ, CLAMP, RUNBIST и INTEST.

Стандарт ГС никак не обуславливает коды дополнительных команд, т.е. они могут быть произвольными, по выбору разработчика ИС. Первые две из перечисленных выше команд (HIGHZ и CLAMP) предназначены для внутрисхемного тестирования и применяются для обеспечения необходимых для этого условий. Команда RUNBIST применяется как для собственно внутрисхемного тестирования, так и для тестирования самой ИС. Назначение команды INTEST — только тестирование самой ИС.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.