JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Регистры и команды граничного сканирования

Вторая статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В предлагаемой вниманию читателей журнала второй статье серии «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» продолжается рассмотрение регистров и команд граничного сканирования. Все аббревиатуры и названия сигналов, регистров и состояний ТАР, введенные в предыдущей статье, будут использованы здесь в основном без дополнительных объяснений.

Если кой-какими частностями пренебречь...

А. Макаревич

В порядке введения ко второй статье серии мы начнем с нескольких резюмирующих замечаний к подробно рассмотренному ранее в предыдущей статье [1] алгоритму работы контроллера ТАР, частично повторяющих сказанное ранее, но весьма существенных для дальнейшего понимания механизма работы ГС.

1) В обоих состояниях сдвига ТАР (как Shift-IR, так и Shift-DR) выходной буфер контакта TDO открывается и остается открытым вплоть до поступления заднего фронта сигнала TCK при переходе контроллера ТАР в состояния Exit1-IR и Exit1-DR соответственно. Во всех прочих состояниях ТАР буфер контакта TDO переходит в состояние с высоким импедансом.

2) В обоих состояниях фиксации ТАР (как Update-IR, так и Update-DR) параллельный перенос содержимого регистра данных в его каскад фиксации синхронизируется задним фронтом пульса TСК, что определяет операцию записи, которую мы обсудим при описании РГС.

3) В обоих состояниях захвата ТАР (как Capture-IR, так и Capture-DR) запоминание данных в сдвиговом каскаде активного (подключенного между контактами TDI и TDО) регистра синхронизируется передним фронтом пульса TСК. Необходимо отметить, что поскольку переход в состояние, следующее за состоянием захвата, синхронизируется именно этим передним фронтом, собственно запоминание (захват) данных происходит во время нахождения диаграммы ТАР на выходящей из состояния захвата дуге, иначе говоря, во время перехода из состояния захвата в следующее за ним. Мы будем называть это операцией чтения, и в дальнейшем увидим (рис. 8), что выполнение этой операции происходит не менее чем через 2,5 периода пульса TСК после операции записи.

4) В любом состоянии сдвига содержимое активного регистра сдвигается наружу к контакту TDO по заднему фронту пульса TСК, тогда как вдвигается внутрь регистра через контакт TDI по переднему фронту этого же пульса. Это приводит к следующим эффектам [2]:

  1. Сдвиг содержимого регистра к контакту TDO происходит не при нахождении контроллера ТАР в одном из состояний сдвига (это — одна из распространенных ошибок!), а во время перехода из состояния сдвига обратно в состояние сдвига или же в следующее за ним состояние, иначе говоря, при нахождении диаграммы контроллера ТАР на выходящей из состояния сдвига дуге;
  2. По переднему фронту пульса TСК, синхронизирующего переход ТАР из состояния захвата в состояние сдвига, никакие данные внутрь регистра через контакт TDI не вдвигаются;
  3. Никакие данные, находящиеся на контакте TDO при вхождении контроллера ТАР в состояние сдвига, не принимаются в расчет до поступления ближайшего заднего фронта пульса TСК.

Из перечисленных эффектов следует несколько парадоксальный, но верный, вывод о том, что содержимое активного регистра сдвигается на контакт TDO уже за полпериода TСК до того, как первая порция данных только вдвигается в регистр через контакт TDI. Разумеется, этот эффект должен учитываться программным обеспечением поддержки ГС.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.