JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Введение в технологию граничного сканирования

Первая статья цикла

Ами Городецкий, к. т. н., гл. технолог, JTAG.TECT
Леонид Курилан, ген. директор, JTAG.TECT

       В первой из статей серии «Основы технологии граничного сканирования и тестопригодного проектирования» рассматриваются предпосылки возникновения стандарта цифровой технологии граничного сканирования, основы ее архитектуры и контроллер ТАР.
       Предлагаемая вниманию читателей журнала серия статей задумана как введение в целое направление современного тестирования и тестопригодного проектирования печатных плат и электронных модулей, которое получило чрезвычайно широкое распространение в мире электроники в последние без малого два десятка лет. Основные темы, которые авторы намерены рассмотреть в рамках этой серии, следующие:
  1. Основы цифрового стандарта граничного сканирования IEEE 1149.1: архитектура, регистры, режимы работы, команды, характеристики, тенденции.
  2. Язык описания структур граничного сканирования BSDL и последовательный векторный формат SVF.
  3. Принципы цифровой технологии граничного сканирования — основные алгоритмы и разновидности тестов.
  4. Основы тестопригодного проектирования в цифровой технологии граничного сканирования для печатных плат, модулей и систем.
  5. Основы аналогового стандарта граничного сканирования IEEE 1149.4: архитектура, регистры, режимы работы, команды, характеристики, тенденции.
  6. Усовершенствованный стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6: принципы, передатчик, приемник, ограничения, расширения языка BSDL.
  7. Внутрисхемное конфигурирование и стандарт IEEE 1532.
  8. Контактные методы структурного тестирования (ICT, Flying probe и т.д.).
  9. Тенденции развития технологии граничного сканирования.

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

Авторизоваться:

Логин (e-mail):
Пароль:
Регистрация / Забыли пароль?

ОСНОВЫ JTAG и DFT
    · Введение в технологию граничного сканирования
    · Регистры и команды граничного сканирования
    · Язык описания структур граничного сканирования
    · Основной формат ввода тест программ и тесты граничного сканирования
    · Тестопригодное проектирование схем для граничного сканирования
    · Системы поддержки граничного сканирования ScanWorks и ScanExpress
    · Системы поддержки граничного сканирования ProVision и onTAP
    · Введение в аналоговый стандарт граничного сканирования IEEE 1149.4
    · Программы ГС-тестирования современных печатных плат в примерах
    · Стандарт граничного сканирования IEEE 1149.6 для дифференциальных цепей
    · Аппаратное обеспечение систем поддержки ГС ScanWorks и ScanExpress
    · Аппаратное обеспечение системы onTAP фирмы Flynn Systems
    · Аппаратное обеспечение системы ProVision фирмы JTAG Technologies
    · Программное обеспечение прогона тест-программ граничного сканирования
    · Введение во внутрисхемное тестирование
    · Тестопригодное проектирование и сравнительные характеристики внутрисхемного тестирования ICT
    · Основы технологии JTAG и тестопригодного проектирования в вопросах и ответах
    · Расширенное обсуждение JTAG-стандарта IEEE 1149.6
    · Система разработки и прогона JTAG-тестов фирмы ХJTAG
    · Внутрисхемное конфигурирование микросхем ПЛМ и FPGA в стандарте IEEE 1532
    · Новый двухконтактный JTAG-порт: стандарт IEEE 1149.7
    · Cтандарт тестопригодного проектирования микросхем IEEE Р1687
    · Новый стандарт JTAG-тестирования пассивных компонент IEEE P1149.8.1
    · Введение в стандарт IEEE 1500 для тестопригодного проектирования СнК (Часть 1)




 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.