JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Наши партнёры и заказчики

Компания JTAG.ТЕСТ поддерживает активные деловые и партнерские отношения с ведущими электронными фирмами России, Израиля, США и Канады, занимающимися разработкой вычислительной и полупроводниковой техники, средств связи и сигнализации, оборонной техники, медицинского и научного оборудования, а также с университетами, журналами и сетевыми изданиями. Логотипы лишь некоторых из наших партнеров и заказчиков представлены на этой странице.

Наши программы тестирования JTAG и ICT внедрены и ежедневно работают на линиях сборки множества контрактных производителей Израиля и ускоренными темпами внедряются на линиях сборки контрактных производителей России.

На русскоязычном пространстве мира мы являемся дилером компании Flynn Systems (США) — одной из наиболее известных и успешных фирм, действующих на рынке электроники, поставляющей программно-аппаратные средства разработки тестов граничного сканирования (JTAG) и выполнения таких тестов в лабораториях и на производственных линиях.


Разработка и производство электроники


JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT  JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT 
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
Сарапульский радиозавод


Разработка и производство СБИС и СнК


JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT


Контрактное производство электроники

В Израиле:

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

В США:

 JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT  JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT  JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT

В России:

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT   JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT


Производители программно-аппаратных средств JTAG-тестирования, с которыми мы тесно сотрудничаем


JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT


Университеты и колледжи, в которых мы преподаем

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT


Издательства, журналы, сетевые издания, где мы публикуемся

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT


Наши дилеры

JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT   Компания «ЭлекТрейд-М» специализируется на поставках радиоизмерительного, тестового и технологического, а также вакуумного оборудования, электронных компонентов и материалов, программных продуктов и вычислительных средств для проектирования и моделирования электронных устройств.


English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Библиотеки

22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG.ТЕСТ

08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.