JTAG.ТЕСТ - технологии граничного сканирования, методики тестопригодного проектирования, JTAG, ICT, DFT
В JTAG мы знаем все!
«... Мы говорим JTAG, подразумеваем — ТЕСТ,
мы говорим ТЕСТ, подразумеваем — JTAG!»

Чем мы интересны


JTAG.ТЕСТ

JTAG.ТЕСТ — это дочерняя компания фирмы StarTest, хорошо известной в израильской электронике с 2003 года и обладающей безупречной репутацией. Компания JTAG.ТЕСТ основана двумя экспертами в области тестирования электроники, технологий граничного сканирования (JTAG), внутрисхемного тестирования (ICT) и тестопригодного проектирования (DFT), в течение многих лет работающими и преподающими под коллективным именем Dr. JTAG.

Мы обладаем более чем 50-летним совокупным опытом (в СССР и в Израиле) анализа тестопригодности электронных схем и разработки для них тестов для десятков израильских и международных компаний и имеем впечатляющий опыт практической работы с большинством известных в мире систем генерации тестов, базирующихся на использовании технологий граничного сканирования (фирм Flynn Systems, Corelis, Asset, JTAG Technologies, XJTAG) и внутрисхемного тестирования (ICT) на тестерах фирмы Teradyne.

Мы являемся консультантами по DFT, ICT и JTAG множества израильских и международных фирм электроники и высоких технологий, среди которых Marvell, Kodak, Alvarion, Allot, PMC-Sierra, Voltaire, Verint, General Electric Medical, Mennen Medical, Flextronics, Comverse, Elbit, Minicom, Mellanox, Visonic, Avaya, Applied Materials, Zicon, Rokar, Sanmina SCI и многие другиe.

На русскоязычном пространстве мира мы являемся дилером компании Flynn Systems (США) — одной из наиболее известных и успешных фирм, действующих на рынке электроники, поставляющей программно-аппаратные средства разработки тестов граничного сканирования (JTAG) и выполнения таких тестов в лабораториях и на производственных линиях.

Особенностью нашего подхода к заказчикам наших услуг и их проблемам является глубокий и профессиональный анализ тестопригодности разрабатываемых ими схем, тщательность и внимание к особенностям и требованиям их производства. Мы обеспечиваем непрерывное инженерное и экспертное сопровождение схем и плат заказчика весь период жизни этих плат — от начальных этапов их проектирования, через тестирование их на производственных линиях, до отладки, внутрисхемного программирования и прожига элементов ПЛМ, FPGA, флэш-памяти, и их тестового сопровождения на объекте эксплуатации.

English

NEWS-рассылка


Скачать БЕСПЛАТНО
JTAG-систему onTAP
на 30 дней!

Отзывы о нас

Новости JTAG-Библиотеки

22.04.2013 г.
Мы рады информировать наших друзей,
что исправленная редакция монографии д-ра Ами Городецкого
«ВВЕДЕНИЕ В ТЕХНОЛОГИИ JTAG И DFT. ТЕСТИРОВАНИЕ В ТЕХНОЛОГИЯХ ГРАНИЧНОГО СКАНИРОВАНИЯ И ТЕСТОПРИГОДНОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ»
вышла в издательстве PALMARIUM ACADEMIC PUBLISHING, GERMANY. Книгу можно приобрести здесь.
Или — через наш сайт, с небольшой скидкой.
Пишите на info@jtag-test.ru
07.05.2012 г.
Мы с удовольствием сообщаем нашим читателям и подписчикам, что в немецком академическом издательстве Palmarium в Саарбрюккене, Германия, вышла в свет монография д-ра Ами Городецкого «Введение в технологии JTAG и DFT. Тестирование в технологиях граничного сканирования и тестопригодное проектирование», 2012, Palmarium Academic Publishing, Germany, ISBN 978-3-8473-9324-5.

Новости JTAG.ТЕСТ

08.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4965) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
07.08.2013 г.
Выложена для скачивания обновленная версия (4942) бесплатного графического поисковика Test Fault Locator.
22.04.2013 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программного продукта Test Fault Locator.
08.07.2012 г.
К сайту подключена новая страница с описанием нашего нового программно-аппаратного продукта JTAG Overseer

Пресс-релизы

Разработан, произведен и полностью доступен новый аппаратный модуль JEMIO-LVDS — эффективное дополнение к модулю JEMIO. В полной конфигурации модуль JEMIO-LVDS обеспечивает 36 LVDS-входных каналов и 36 LVDS-выходных каналов, плюс 2 TTL I/O канала и может быть соответственно конфигурирован по желанию пользователя. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для кластерного JTAG-тестирования цепей miniPCI. В полной конфигурации модуль JEM_MiniPCI-T III обеспечивает тестирование 83-х PCI и резервных каналов, 33-х линий земли и питания, а также нескольких конфигурируемых петлевых соединений. Подробности см. здесь.
Разработан, произведен и полностью доступен новейший модуль для тестирования памяти типа UDIMM (DDR3 Unbuffered DIMM). Примеры модулей памяти DDR3 — MT18JSF25672AZ — 2GB, MT18JSF51272AZ — 4GB. Подробности — см. здесь.


 

Карта сайта | О нас | Услуги | Софт & хард | JTAG-Библиотека | Партнеры и заказчики | Поддержка | onTAP | Контакты | Монография
Написать вебмастеру
© JTAG.ТЕСТ, 2009.
Все права защищены.