Добро пожаловать
в мир тестопригодного проектирования (DFT)
и технологий граничного сканирования (JTAG)
с компанией JTAG.ТЕСТ!

Технология граничного сканирования (Boundary-Scan, JTAG), определяемая стандартом IEEE 1149.1, почти два десятилетия является незаменимым инструментом при тестировании устройств c ограниченным доступом к выводам микросхем. Широкое применение многослойных печатных плат с микросхемами в корпусах BGA и двусторонним монтажом дало новый мощный импульс развитию и повсеместному применению этой технологии. Граничное сканирование используется также как средство доступа к внутренним регистрам микросхем для наблюдения за их состоянием в процессе отладки электронных плат. Исключительно широко технология JTAG применяется и для внутрисхемного программирования (ISP) и прожига микросхем флэш-памяти.

Компания JTAG.ТЕСТ (дочерняя от компании StarTest) специализируется на применении технологий граничного сканирования JTAG (не только традиционной цифровой IEEE 1149.1, но также и аналоговых IEEE 1149.4 и IEEE 1149.6, и др.), методик тестопригодного проектирования (DFT) на различных уровнях электронной техники — от элементного до системного, и внутрисхемном тестировании (ICT). Фундаментальные знания в тестировании электроники и в преподавании технологий тестирования в университетах и колледжах, а также многолетний опыт работы со всеми известными системами генерации тестов JTAG и широчайшие контакты с большинством ведущих фирм и разработчиками во всем мире, делают компанию JTAG.ТЕСТ одной из наиболее востребованных в области электронного тестирования, диагностики и тестопригодного проектирования.

Мы обучаем тестопригодному проектированию электроники, консультируем в применении технологий JTAG, а также разрабатываем:

JTAG-программы для структурного тестирования безошибочности сборки плат, внутрисхемного программирования микросхем ПЛМ и FPGA и прожига флэш-памяти на следующих платформах: onTAP фирмы Flynn Systems ScanExpress фирмы Corelis ProVision фирмы JTAG Technologies ScanWorks фирмы Asset ICT-программы внутрисхемного цифрового и аналогового тестирования плат на тестерах Z18xx фирмы Teradyne.